今年7月，国家知识产权局做出第580522号无效宣告请求审查决定书，宣告第202222929579.2号实用新型专利《功率半导体器件电阻电容一体化单机测试仪》全部无效。

本案为我所2024年4月承接的无效宣告请求案件，涉案专利通过将控制电路、LCR测试电路、栅极偏压电路、漏极偏压电路及多通道隔离开关矩阵电路集成于单台仪器中，提高了操作简便性和维护便利性，同时降低了生产成本。

我所经检索，以202011630619.2号《一种MOSFET等效阻抗自动测试装置及分选装置》发明专利申请作为最接近的现有技术提出无效宣告请求，该证据相对于涉案专利仅未公开“一体化”的发明构思，经审议，合议组认为：本领域技术人员知晓一体化测试系统的集成度高具有体积小、便携性高等优点，但存在故障不易修复、系统维护较为复杂的缺陷，与一体化测试系统相对的是分体式测试系统，其将不同功能模块独立设置，发生故障后，定位故障较为容易，可以针对不同模块分别维护，且体积更大，系统搭建完成后不易移动，本领域技术人员在知晓二者优缺点的情况下，为了提高集成化或满足小型化等需要，容易想到在证据1分体式测试装置基础上进行集成化以得到一体化单机测试仪。

从提起无效请求至宣告专利权全部无效仅用了四个月时间，充分证明了我方的专业性。